浅析电源适配器的封装热传标准

发布时间:2022-02-08 15:36:15 编辑:管理员 点击:4850 分类:企业资讯

  早期的电源适配器热传工业标准主要是SEMI标准,该标准定义了IC封装在自然对流、风洞及无限平板的测试环境下的测试标准。今天就跟随小编一起来了解下电源适配器的封装热传标准吧!

  自1990年之后,JEDECJC51委员会邀集厂商及专家开始制定新的热传工业标准,针对热管理方面提出多项标准。和SEMI标准相比,新的热传工业标准虽然基本测量方法及原理相同,但内容更为完整,此外也针对一些定义进行了更清楚的说明。

  SEMI标准中定义了两种热阻值,即Rja及Rjc。其中,Rja是测量在自然对流或风洞环境下从芯片界面到大气中的热传。由于测量是在标准规范的条件下进行的,因此对于不同的基板设计及环境条件有不同的结果,此值可用于定性地比较封装散热的容易程度。Rjc是指热由芯片界面传到IC封装外壳的热阻,在测量时需接触一等温面,该值主要用于评估散热片的性能。

  随着封装形式的改变,在新的JEDEC标准中增加了Rjb、ψjt、ψjb等几个测量参数。其中,Rjb为在几乎全部热由芯片界面传到测试板的环境下,由芯片界面到测试板上的热阻,该值可用于评估PCB的热传效能。ψjx为热传特性参数,其定义如下。

  (1)ψ和R的定义类似,但不同之处是ψ是指在大部分的热量传递的情况,而R是指全部的热量传递。在实际的电子系统散热时,热会由封装的上下甚至周围传递,而不一定会由单一方向传递,因此ψ的定义比较符合实际系统的测量情况。

  (2)ψjt是指部分的热由芯片界面传到封装上方外壳时所产生的热阻,该值可用于实际系统产品由IC封装外表面温度预测芯片界面温度。

  (3)ψjb和Rjb类似,是指在自然对流及风洞环境下,部分热由芯片界面传到下方测试板时所产生的热阻,可用于由板温去预测结面温度。

  虽然标准中的各种热阻测量值可应用于实际系统产品的温度预测,但是实际应用时仍然有很大的限制。使用标准的Rja、Rjb、ψjt、ψjb等测量参数对系统产品的温度进行预测时,需注意标准测试条件所用的测试板尺寸、铜箔层及含铜量,还需注意测量时所采用的自然对流及风洞环境和实际系统的差别。

  一般来说,由实验测量的热阻值或热传参数主要用来对IC封装散热效能进行定性比较,即不论由哪家封装厂封装,只要符合标准方式,就可以比较其散热状况,这对于了解IC封装散热设计或热传状况有很大帮助。此外,实验测量值也可用于数值模拟的验证及简化。

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